MJK-RB — Pattern Inspection
图案检测型号
可同时测量涂层和未涂层区域的图案尺寸,并检测涂层与未涂层区域缺陷的装置。通过采用高速相机+高速图像处理板,相比传统机型实现更高精度的测量和检测。
01
02
可为每个测量部分设置缺陷检测级别。
除涂层/未涂层区域外,还可测量缺角、波纹、正反面偏移等。
配备校正不均与噪声的阴影校正、滤波功能、通过条纹增强处理进行纵向条纹检测等多种处理功能。
MJK-EX高端型号
推荐用户:
AI defect classification — NireCla
NireCla 通过 AI 图像分类,将 Mujiken 检出的缺陷按种类自动分类。