MJK-RB — Pattern Inspection
支援圖案檢測的機型
可同時進行塗佈區與未塗佈區的圖案尺寸量測,以及塗佈區與未塗佈區的缺陷檢測的裝置。透過採用高速相機+高速影像處理板,相較於既有機型可實現更高精度的量測與檢測。
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可為每個量測部位設定判定為缺陷的等級。
除塗佈區、未塗佈區外,亦可量測角部缺損、波浪狀變形、正反面偏移等。
搭載補正不均與雜訊的陰影補正、濾波功能、以條紋強調處理進行縱向條紋檢測等多樣的處理功能。
MJK-EX高階機型
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AI defect classification — NireCla
NireCla 透過 AI 影像分類,將 Mujiken 檢出的缺陷依種類自動分類。